Thermische Messsysteme – Simulation validieren, Qualität absichern
Thermisches Verhalten messen statt nur simulieren
Simulation ist ein entscheidender Schritt in der Entwicklung – doch erst reale Messdaten zeigen, wie sich ein System im Betrieb tatsächlich verhält.
Mit präzisen thermischen Messsystemen lassen sich Wärmeverhalten, Verlustleistung und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten exakt analysieren und validieren.
ELiNTER bietet Lösungen auf Basis von Simcenter Micred Testsystemen – kombiniert mit Engineering‑Know‑how für echte Anwendungssicherheit.
Warum thermische Messung entscheidend ist
In vielen Projekten entstehen Unsicherheiten zwischen Simulation und Realität:
Abweichungen zwischen Modell und realem Verhalten
unbekannte thermische Schwachstellen
Unsicherheiten bei Lebensdauer und Zuverlässigkeit
Thermische Messsysteme ermöglichen:
Präzise thermische Charakterisierung von Halbleitern
Life Cylce Tests und zerstörungsfreie Analyse der Degradierung und Fehlermechanismen
Qualitätskontrolle im Entwicklung, Wareneingang oder in der Serienproduktion
Verwendung der thermischen Charakterisierung zur Kalibrierung von thermischen Simulationsmodellen
Simcenter Micred – Messsysteme für thermische Charakterisierung
ELiNTER bietet verschiedene Testsysteme für unterschiedliche Anforderungen in Entwicklung, Test und Produktion.
Simcenter Micred T3STER
Zerstörungsfreies Messsystem zur thermischen Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Baugruppen.
Messung von transientem Temperaturverhalten
Analyse des Wärmepfads innerhalb des Bauteils
Hohe Genauigkeit und Reproduzierbarkeit
Ideal für:
Entwicklung
Designvalidierung
Simulation‑Kalibrierung
Simcenter Quality Tester
System zur thermischen Qualitätssicherung in der Produktion.
Schnelle und präzise automatische Qualitätstests und Binning
Qualitätstests am Wareneingang, In-Line oder End-of-Line
Hohe Automatisierung und Konfigurierung in die Prozesskette
Simcenter Powertester
System für automatisierte Power‑Cycling‑Tests und Zuverlässigkeitsanalysen.
Simuliert reale Betriebsbelastungen
Erkennt Ausfallmechanismen frühzeitig
Ermöglicht Lebensdaueranalyse von Leistungselektronik
Einsatzbereiche:
Automotive
Industrial
Energy & Power Electronics
ELiNTER unterstützt Sie bei Auswahl, Einführung und Anwendung von Messsystemen sowie bei der Interpretation der Messergebnisse – immer mit Fokus auf reale Anwendungen. → Beratung anfragen
Der Simcenter™ Micred™ Power Tester ist ein hochentwickeltes Gerät für die Prüfung und Analyse von Leistungselektronikkomponenten. Es kombiniert aktives Power-Cycling mit transienter thermischer Charakterisierung und Untersuchung der thermischen Struktur.
Hauptmerkmale:
a. Automatisiertes Power-Cycling: Das Gerät führt automatisierte Leistungszyklen durch, während es gleichzeitig Analysedaten für die Echtzeitdiagnose von Fehlern erzeugt.
b. Echtzeit-Fehlerdiagnose: Der Simcenter™ Micred™ Power Tester kann Module über Zehntausende oder sogar Millionen von Zyklen hinweg testen und dabei eine Echtzeit-Fehlerdiagnose liefern.
c. Vielseitige Einsatzmöglichkeiten: Er ist sowohl für Fertigungs- als auch für Laborumgebungen konzipiert.
d. Nicht-destruktive Testmethode: Die Struktur-Funktions-Bewertung kann durchgeführt werden, während das Gerät montiert ist, ohne es zu zerstören.
Anwendungsbereiche Der Simcenter™ Micred™ Power Tester wird in verschiedenen Bereichen der Leistungselektronik eingesetzt: Luftfahrt, Elektrofahrzeuge, Züge, Stromerzeugung, Erneuerbare Energien
Technische Details
Maximaler Laststrom: Bis zu 3600A
Anzahl der Heizkanäle: Bis zu 4
Anzahl der testbaren Geräte pro Powertester: bis 163
Der Simcenter™ Micred™ Power Tester ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Entwicklung zuverlässiger Leistungselektronikkomponenten und bietet Herstellern und Zulieferern wertvolle Daten für die Qualitätssicherung und Produktoptimierung.
Der Simcenter™ Micred™ Quality Tester ist ein fortschrittliches Gerät zur thermischen Qualitätssicherung von Halbleitergehäusen. Seine Hauptfunktionen umfassen:
Bewertung der thermischen Struktur von Halbleitergehäusen zur Identifizierung von Fertigungsfehlern, einschließlich Die-Attach-Problemen.
Präzise thermische Impedanzmessung in Kombination mit automatischen Prüfgeräten für Halbleitertests mit hohem Durchsatz.
Überprüfung des Junction-to-Case-Wärmewiderstands durch genaue Messung der thermischen Reaktion auf einen kurzen Leistungsimpuls.
Messung der Sperrschichttemperatur über eine elektrische Methode mit der integrierten Simcenter™ Micred™ T3STER-Technologie.
Automatisiertes Binning von Geräten im Vergleich zu einer Goldstandard-Wärmeimpedanzkurve und voreingestellten Variationsbändern.
Erstellung von Wärmeimpedanzprofilen zur Identifizierung potenzieller thermischer Probleme wie Verschlechterung des Wärmepfads.
Echtzeit-Erkennung von Drahtbondbrüchen, Lötermüdung, Die- und Substrat rissen.
Nicht-destruktive, wiederholbare und standardisierte Prüfmethoden gemäß JEDEC-Standards und ECPE Automotive Qualification Guidelines (AQG)
Der Simcenter™ Micred™ Quality Tester ermöglicht somit eine umfassende thermische Qualitätssicherung von Halbleitergehäusen und trägt zur Verbesserung der Zuverlässigkeit und Leistung elektronischer Komponenten bei.
Der Simcenter™ Micred™ T3STER ist ein hochentwickeltes, zerstörungsfreies Gerät zur thermischen Charakterisierung von Halbleiterbauteilen. Es misst die thermische Transientenleistung, um die Wärmeübertragung und -speicherung in elektronischen Komponenten präzise zu bewerten. Hier sind die Hauptmerkmale und Anwendungen:
Funktionen und Eigenschaften
a. Thermische Charakterisierung: Misst die transiente thermische Antwort von Halbleiterbauteilen wie Dioden, MOSFETs, IGBTs und LEDs mit einer Genauigkeit von ±0,01 °C und einer zeitlichen Auflösung von bis zu 1 Mikrosekunde.
b. Strukturfunktionen: Erzeugt Diagramme des thermischen Widerstands und der thermischen Kapazität entlang des Wärmeflusswegs, um Fehler wie unzureichende Die-Befestigungen zu identifizieren.
c. Echtzeitmessung: Führt kontinuierliche Messungen durch und liefert hochpräzise thermische Impedanzdaten.
d. Skalierbarkeit: Unterstützt bis zu acht Messkanäle und kann durch Hardware-Erweiterungen angepasst werden.
Anwendungen
- Fehleranalyse: Nicht-destruktive Analyse von thermischen Defekten in Bauteilen während der Produktion.
- Wärmemodell-Kalibrierung: Exportiert Messdaten zur Validierung von Wärmemodellen in Software wie Simcenter™ Flotherm™.
- Qualitätskontrolle: Identifiziert thermische Schwachstellen in Halbleitern zur Verbesserung der Produktzuverlässigkeit.
- Materialcharakterisierung: Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit von Materialien wie Thermal Interface Materials (TIMs).
Vorteile
- Schnelle, wiederholbare und präzise Messungen.
- Breite Anwendbarkeit für verschiedene Halbleitertechnologien
- Unterstützung für Echtzeit-Diagnosen und Langzeit-Zuverlässigkeitsanalysen.
Der Simcenter™ Micred™ T3STER ist ein unverzichtbares Werkzeug für Ingenieure in der Halbleiterentwicklung, insbesondere bei der Optimierung thermischer Designs und der Sicherstellung der Produktzuverlässigkeit.