Software – Mess- & Testsysteme
Thermische Messsysteme – Simulation validieren & kalibrieren, Qualität absichern
Simulation ist ein entscheidender Schritt in der Entwicklung – doch erst reale Messdaten zeigen, wie sich ein System im Betrieb tatsächlich verhält. Mit präzisen thermischen Messsystemen lassen sich Wärmeverhalten, Verlustleistung und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten exakt analysieren und validieren.
ELiNTER bietet Lösungen auf Basis von Simcenter Micred Testsystemen – kombiniert mit Engineering‑Know‑how für echte Anwendungssicherheit.
Simcenter Micred – Messsysteme für thermische Charakterisierung & zerstörungsfreie Messungen
ELiNTER ELiNTER bietet verschiedene Testsysteme für unterschiedliche Anforderungen in Entwicklung, Test und Produktion.
Die folgende Tabelle bietet einen ungefähren Überblick verschiedenster Einsatzbereiche und die Anwendbarkeit der Systeme
Einsatzbereiche können bei verschiedenen Unternehmen, Komponenten, Produkten, geplanten Einsätzen, etc. unterschiedlich sein und damit die Tabelle nicht immer zutreffen. ELiNTER unterstützt Sie bei der genaueren Auswahl, Einführung und Anwendung der Messsysteme sowie bei der Interpretation der Messergebnisse – immer mit Fokus auf reale Anwendungen. → Beratung anfragen
Simcenter™ Micred™ Power Tester
Der Simcenter™ Micred™ Power Tester ist ein hochentwickeltes Gerät für die Prüfung und Analyse von Halbleiter Leistungselektronikkomponenten. Er kombiniert aktives Power-Cycling mit transienter thermischer Charakterisierung und Untersuchung der thermischen Struktur.
Zu den zentralen Vorteilen:
Automatisiertes Power Cycling: Der Simcenter™ Micred™ Power Tester führt automatisierte Leistungszyklen durch, während er gleichzeitig Analysedaten für die Echtzeitdiagnose aufzeichnet.
Echtzeit-Fehlerdiagnose: Der Simcenter™ Micred™ Power Tester kann Module über Zehntausende oder sogar Millionen von Zyklen hinweg testen und dabei eine zerstörungsfreie Echtzeit-Fehlerdiagnose liefern.
Zerstörungsfreie Testmethode: Die Auswertung der Struktur-Funktion kann durchgeführt werden, während die Leistungsmodule montiert sind, ohne sie zu zerstören.
Vielseitige Einsatzmöglichkeiten: Er ist sowohl für Fertigungs- als auch für Laborumgebungen konzipiert und findet Anwendung in Lebenszyklusversuchen und Fehlermodi-Analyse. Eine Degradation über die Alterung der verschiedenen Schichten des Modulaufbaus kann genau festgestellt werden ab wann und wo diese auftritt.
Anwendungsbereiche:
Der Simcenter™ Micred™ Power Tester wird in verschiedenen Bereichen der Leistungselektronik eingesetzt: Luftfahrt, Elektromobilität, Bahnverkehr, Konventionelle und Erneuerbare Energien
Technische Details:
Maximaler Laststrom - bis zu 3600A
Anzahl der Heizkanäle - bis zu 4
Anzahl der testbaren Geräte pro Powertester - bis 163
Der Simcenter™ Micred™ Power Tester ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Entwicklung zuverlässiger Leistungselektronik-komponenten und bietet Herstellern und Zulieferern wertvolle Daten für die Qualitätssicherung und Produktoptimierung.
Simcenter™ Micred™ Quality Tester
Automatisierbare Junction-to-Case-Wärmewiderstands Messung in der Qualitätsprüfung
Echtzeit-Erkennung von Drahtbondbrüchen, Lötermüdung, Die- und Substrat rissen und Delamination
Zerstörungsfreie, wiederholbare und standardisierte Prüfmethoden gemäß JEDEC-Standards und ECPE Automotive Qualification Guidelines (AQG)
Der Simcenter™ Micred™ Quality Tester ermöglicht somit eine umfassende thermische Qualitätssicherung von Halbleiterkomponenten und trägt zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Leistungselektronik bei.
Der Simcenter™ Micred™ Quality Tester ist ein fortschrittliches Gerät zur thermischen Qualitätssicherung von Halbleiterkomponenten. Spezialisiert auf Qualitätstests in der Fertigungslinie oder automatisiert in der Laborumgebung. Er kann automatische Go oder No-Go Unterscheidungen in der Qualitätsanalyse und Produktoptimierung.
zu den zentralen Vorteilen:
Bewertung der thermischen Struktur von Halbleiterkomponenten zur Identifizierung und Aussortierung defekter Komponenten
Automatisiertes Binning von Geräten im Vergleich zu einer Goldstandard-Wärmeimpedanzkurve und voreingestellten Variationsbändern.
Präzise thermische Impedanzmessung in Kombination mit automatischen Prüfgeräten für Halbleitertests mit hohem Durchsatz
Simcenter™ Micred™ T3STER
Der Simcenter™ Micred™ Quality Tester ermöglicht somit eine umfassende thermische Qualitätssicherung von Halbleiterkomponenten und trägt zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Leistungselektronik bei.
Der Simcenter™ Micred™ T3STER ist ein hochentwickeltes Messsystem zur zerstörungsfreien thermischen Charakterisierung von Halbleiterbauteilen. Es misst die thermische Tansiente, um den thermischen Widerstand und Wärmekapazität in Halbleiterkomponenten präzise daraus abzuleiten. Diese Messmethode ist hoch genau und wiederholbar. Das System ist die Basis der Messungen im Simcenter™ Micred™ Quality Tester und Simcenter™ Micred™ Power Tester.
Funktionen und Eigenschaften:
Thermische Charakterisierung: Er misst die thermische transiente Antwort von Halbleiterbauteilen wie Dioden, MOSFETs, IGBTs und LEDs mit einer Genauigkeit von ±0,01 °C und einer zeitlichen Auflösung von bis zu 1 Mikrosekunde
Strukturfunktion: Er erzeugt Diagramme des thermischen Widerstands und der thermischen Kapazität entlang des Wärmestrompfades, um Fehler wie Delaminationen in den unterschiedlichen Schichten des Halbleiters zu identifizieren
Skalierbarkeit: Er unterstützt bis zu acht Messkanäle und kann durch Hardware-Erweiterungen angepasst werden. Neben anderen Erweiterungen kann das System für Komponenten die hohe Ströme oder Spannungen benötigen erweitert werden
Der Simcenter™ Micred™ T3STER ist ein unverzichtbares Werkzeug für Ingenieure in der Halbleiterentwicklung oder mit hohen Ansprüchen an die Produktqualität, insbesondere bei der Optimierung thermischer Designs und der Sicherstellung der Produktzuverlässigkeit.
Anwendungen:
CFD Simulationsmodell-Kalibrierung: Exportierte Messdaten zur Validierung und Kalibrierung von thermischen Simulationsmodellen in Software wie Simcenter™ Flotherm™ und Simcenter™ FLOEFD™
Fehleranalyse: Zerstörungsfreie Analyse von Defekten in Bauteilen während der Entwicklung und Produktion
Qualitätskontrolle: Identifiziert thermische Schwachstellen in Halbleitern zur Verbesserung der Produktzuverlässigkeit. Aber auch in der Verteidigungsindustrie zur Erkennung von gefälschten Komponenten, die äußerlich gleich aussehen, innerlich aber mit einer andere Struktur und Materialien aufgebaut sind
Materialcharakterisierung: Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit von Materialien wie Thermal Interface Materials (TIMs)
Zu den zentralen Vorteilen:
Schnelle, wiederholbare und präzise Messungen
Breite Anwendbarkeit für verschiedene Halbleitertechnologien
Unterstützung für Echtzeit-Diagnosen und Langzeit-Zuverlässigkeitsanalysen
Qualitätskontrolle von Entwicklung über Wareneingang bis hin zur Unterstützung
Erkennung von Chargen oder Binning Änderungen in Komponenten oder Fälschungen